GST 420 PC - 技术参数 温度范围：RT ... 1200°C 升降温速率：0.01 ... 20 K/min 样品支架：金属（螺旋夹具） 检测系统：LVDT 测量范围：5000 μm（弯曲量） 样品尺寸：长度 260 mm，宽度 12mm 左右，厚度 6mm 左右。中间约 80 mm 的部位须上釉 测量气氛：空气，静态...
DIL 402 E - 技术参数 温度范围：-180°C ... 500°C, RT ... 1600°C, (RT) ... 550°C ... 2400°C, (RT) ... 650°C ... 2800°C (取决于不同的可自由更换的炉体类型) 升降温速率：0 ... 50 K/min（取决于炉体类型和温度范围） 样品支架：石英支架（< 1100°C），氧化铝支架（< 1700°C），石墨支架（2800°C） 测量范围：500／5000 μm 样品长度：25／50 mm 样品直径：较...
DIL 402 Expedis Classic - 技术参数 温度范围：RT … 1600°C 升温速率：0.001 ... 50 K/min 测量系统：NanoEye（单样品，或双样品/差示系统） 样品支架：熔融石英或氧化铝，可自由更换。 温度准确度：1 K 温度精度：0.1 K m.CTE（平均线膨胀系数）重复性：10 -8 1/K 测量范围：± 5000 μm 分辨率：2 nm（全量程） 样品长度：0…52mm（自动样品长度测量） 气体控制：1 路（...
DIL 402 Expedis Select/Supreme - 技术参数 温度范围：-180 ... 2800°C（多种炉体可选） 炉体滑轨：双炉体（常规版本。第二炉体为选配）；单炉体（2800°C版本） 升温速率：0.001 ... 50 K/min 或 100 K/min（不同炉体） 测量系统：NanoEye（单样品，或双样品/差示系统） 样品支架：熔融石英或氧化铝，可自由更换。 温度准确度：1 K 温度精度：0.1 K m.CTE（平均线膨胀系数）重...
